激光粒度儀運用微納的無約束自由擬合技術，粒度分析不受任何函數的限制，可真實反映顆粒的分布狀態，采用會聚光傅立葉變換技術，使散射光不受透鏡孔徑限制；采用雙譜面光路設計，有效擴大測量范圍至2000微米；雙激光正交光路使用半導體輔助激光器測量側向散射45度至135度，將測量范圍進一步擴展。

   激光粒度儀*的設計讓擁有了的高穩定光路，采用了高穩定、長壽命的進口光纖輸出激光器，優良的單色性讓擁有了*的穩定性；主要光路采取了全封閉設計，保證了儀器在復雜環境長時間測試；高密度旋轉式探頭分布保證了全量程無縫測試。激光粒度儀分散系統在法國理論數據的基礎上進行了優化設計，對干粉的分散更加均勻，*的負壓保證了進料的連續性及均勻性，有效避免測試過程中干粉的相互粘連。

   激光粒度儀探測器采用了主探測器與副探測器相結合的全新設計，保證了儀器全量程內無縫探測，使測試更加準確。主探測器設計了自動對中系統，可實現儀器的一鍵自動對中，彰顯人性化設計。同時有效避免手動對中對探測器的損害，有效延長了儀器的使用壽命。激光粒度儀整體進行了密封設計，大幅提高了內部元器件使用壽命。*的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀器的干擾，使結果測試更穩定可靠。

   激光粒度儀光路微變，儀器可以自行對光路進行調節，測試完成后管道內無殘留樣品，不會對下次測試造成干擾，測試人員可借助計算機控制儀器進料量，包括自由分布、R-R分布和對數正態分布、按目分級統計模式等，滿足不同行業對被測樣品粒度統計方式的不同要求。激光粒度儀體積分布和數量分布，以滿足不同行業對于粒度分布的不同統計方式，可針對多條測試結果進行統計比較分析，可明顯對比不同批次樣品、加工前后樣品以及不同時間測試結果的差異，對工業原料質量控制具有很強的實際意義。

   激光粒度儀用戶自定義要顯示的數據，根據粒徑求百分比、根據百分比求粒徑或根據粒徑區間求百分比，以滿足不同行業對粒度測試的表征方式，徑距、一致性、區間累積等等。激光粒度儀中英文語言界面支持，還可根據用戶要求嵌入其他語言界面，全自動無人干預操作，無人為因素干擾，您只需按提示加入待測樣品即可，測試結果的重復性更好。