任中京教授受邀參加2013年SAC/TC168顆粒分技術委員會年會
更新時間：2013-11-04
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全國顆粒表征與分檢及篩網標委會顆粒分技術委員會（以下簡稱“分委會”）年會于10月19日-21日在安徽池州召開。會議由國家非金屬礦深加工產品質量監督檢驗中心承辦，共有28名委員和代表參會。會議討論了立項項目的擬定標準及其顆粒分析技術在國內的適用性、應用領域、標準名稱的適宜性以及與標準的關系等。
作為全國顆粒測試技術的者濟南微納顆粒儀器股份有限公司的董事長任中京教授受邀參加了此次會議。任中京教授從事激光顆粒分析理論與技術研究工作30年有余。期間主持并完成國家省部科技攻關項目4項。發表論文60余篇，其中收入美國工程索引（EI）研究論文20余篇，在顆粒學研究領域享有很高聲譽。
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